簡智儀器領跑拉曼快檢領域 SERS 增強技術發布

簡智儀器核心團隊在激光快檢領域具有成熟的技術基礎，在光學檢測領域和航天級產品研發上保持技術優勢，尤其在拉曼快檢技術方面已擁有十余年研發制造經驗，也一直有專門的團隊從事SERS技術的研發。該款SERS增強芯片基于表面等離子體共振技術，可用于食品安全、生物醫藥、毒品爆炸物等眾多領域的痕量檢測。

 拉曼增強芯片——靈敏度高、重現性強、適用性廣、識別性好

在增強芯片核心區域上，我們制作了納米級精度的有序點陣結構，使光散射得到光子級別的均勻控制，從而讓待測分子的拉曼特征信號得到一定程度的展現而不失真。為了增強這款芯片的普適性，讓它對不同類型、不同狀態下的分子都能做到精準捕捉、精確呈現，我們對陣列的構型、點陣間隙距離參數等都進行了精心的設計，并用先進的組裝技術原位實現。

總得來講，可以用以下四點概括這款芯片的應用性能：

1.靈敏度高：對于絕大多數分子，這款芯片的增強靈敏度達到5個數量級以上，可以做到痕量檢測。

2.重現性強：芯片的結構和先進的工藝技術使得它在檢測中表現出高度穩定性和可重復性，批間測試差異小。

3.適用性廣：不同分子可以在點陣微結構的不同作用部位得到信號增強，解決不同樣品的檢測需求，地提高了檢測的便捷性。

4.識別性好：由于光子級別的散射控制，拉曼特征信號可以被準確呈現，使待測物可以被精準地識別出來，給檢測帶來便利。

    此外，為配合相關檢測技術，簡智儀器也同時發布了新的表面增強SERS試劑 ，這是經改進后的第3代試劑，包含6種常規型號，其中4種金膠，2種銀膠，具有適用范圍廣、高穩定性及特異性等特點，適用于食品安全、生物醫藥、物質表征等領域。

“融合創新 智鑒未來——現場快檢技術發展高峰論壇暨2019簡智新品發布會” 年初在南京成功召開，本次論壇在南京大學、中科院上海光學精密機械研究所、江蘇警官學院、南京銀行、通服通訊等單位指導下，由光學快檢儀器制造商南京簡智儀器設備有限公司主辦。

作為本次論壇主辦單位的南京簡智儀器設備有限公司，還邀請到“神光Ⅲ”總體技術組總工程師、中國工程院范滇元院士對快檢行業做深度解讀，對快檢技術應用前景進行展望。此外，還邀請江蘇警官學院反爆炸研究中心主任、孫光教授，江蘇省食品藥品監督檢驗研究院食品室徐春祥主任，以及中科院上海光學精密機械研究所科技考古中心李青會研究員等多位行業內知名專家、學者并發布相關技術專題報告，并希望借由本次現場快檢技術發展高峰論壇，鼓勵并支持更多的行業伙伴在快檢領域持續創新，為快檢產業的發展添磚加瓦，為中國的發展貢獻一份力量。